Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковыx материалов
Phụ đề
Дисс. Кандидата физико-матемтическиx наук: 01.04.10
Tác giả
Во Тан Лонг
Khu vực
Санкт-Петербург
Nơi xuất bản
Санкт-Петербург гос. электротеx Ун-т
Năm xuất bản
1995
Số trang
300с.
Ngôn ngữ
Tiếng Nga
Từ khóa
Phân tích định lượng, X quang, Vật liệu bán dẫn
Tóm tắt
Phát triển những khái niệm mô phỏng dành cho vi phân định lượng bằng X-quang (VPĐLPX), tối ưu hóa các thuật toán tính toán, lập phần mềm, cũng như ứng dụng những kết quả trên để phân tích các vật liệu bán dẫn
Bánh xe lăn, phím mũi tên, PgUp, PgDn, Home, End để di chuyển trang. Phím +, ‒ trên bàn phím số để phóng to/thu nhỏ trang.