Các khảo sát bằng ellipsometre những lớp mỏng SiO2 hình thành trên bề mặt tinh thể silicium. Xác định chiết xuất của lớp mỏng Si02, khảo sát sự biến đổi chiết xuất của SiO2 bằng các quá trình công nghệ kháu nhau. Về ellipsometre - là một dụng cụ nhạy tron
Bánh xe lăn, phím mũi tên, PgUp, PgDn, Home, End để di chuyển trang. Phím +, ‒ trên bàn phím số để phóng to/thu nhỏ trang.